方塊電阻測試原理
發(fā)布時間： 2023-08-21 16:09:08 點擊： 1523
方塊電阻又稱膜電阻，是用于間接表征薄膜膜層、玻璃鍍膜膜層等樣品上的真空鍍膜的熱紅外性能的測量值。這個數(shù)值可以用來計算熱紅外輻射率。方塊電阻的大小與樣品尺寸無關(guān)，其單位為Siements/sq，也可以用歐姆/sq表示。
方塊電阻測試是用來測量半導(dǎo)體材料制成的薄膜或大圓片的電阻值的測試方法。其測量原理是基于四探針法，通過四個探針的接觸來提供測試電流和提取電位差。在膜寬大于探針間距時，可以計算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。根據(jù)這個比值，儀器內(nèi)部會自動計算出方阻大小。方塊電阻的單位是歐姆，其符號為Ω。
方塊電阻測試是用來測量半導(dǎo)體材料制成的薄膜或大圓片的電阻值的測試方法。其測量原理是基于四探針法，通過四個探針的接觸來提供測試電流和提取電位差。在膜寬大于探針間距時，可以計算出方阻與等效四端電阻的比值為4.532。根據(jù)這個比值，儀器內(nèi)部會自動計算出方阻大小。方塊電阻的單位是歐姆，其符號為Ω。
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